LT-X

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产品简介

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雷达参数

芯片构建	波长	905nm
	天线规模	1300*1300
	天线周期	850nm
	工艺平台	350nm III-V
光束质量控制	发散角	＜1.4mrad
光束质量控制	旁瓣抑制	＜30db
扫描控制	扫描速度	＞3MHz
	扫描维度	2D
	扫描视场角	＞60°*60°
芯片损耗		＜30%
激光雷达系统	测量距离	＞200m@70%Refl.
激光雷达系统	数据采样率	＞3.48MHz

应用场景