高速电控扫描

高集成度

低插入损耗

晶圆级光学超表面设计

成熟的化合物半导体工艺

融合CMOS与MEMS工艺平台

通过直接飞行时间（dToF）技术准确而高速地完成测距

高信噪比的回波信号处理电路可捕捉更微弱的信号

测量更远的距离

高速电路测量光脉冲的往返时间

厘米级距离分辨率